德國KELLER紅外測溫儀--拋光金屬非接觸式溫度測量的新專利方法紅外測溫儀（高溫計）CellaTemp PA21AF1

德國KELLER紅外測溫儀---拋光金屬非接觸式溫度測量的新專利方法

當在金屬的非接觸式溫度測量中，當溫度低于200℃時，熱輻射較低，因此這對于紅外測溫計始終是一個很大的挑戰(zhàn)。

由于金屬的輻射率極低，因此常用的波長在8-14微米的低溫溫度計往往不能提供可靠的測量結(jié)果。長期以來在市場上銷售的帶有硫化鉛探測器的短波測量高溫計，僅能通過光斬波器來產(chǎn)生交變信號?？梢苿邮綖V板的維護成本和故障率均較高，除此之外，由于移動物體的測量反應(yīng)時間較長，因此此類設(shè)備有著很大的局限性。出于純粹的實際原因，無法建立采用“金鏡”進行測量的程序。因為其先決條件是，測量距離只有幾毫米，鏡面無塵。

KELLER公司出品的、基于新電子和光學(xué)模塊的紅外測溫儀CellaTemp PA 28，加載了一個光電擴展InGaAs傳感器。為了接收更多的熱輻射，特別開發(fā)了一個帶有色彩校正透鏡的高通量鏡頭。獲得專利的信號處理方式能夠通過一個較大的動態(tài)范圍將微微安（Picoamper）量級的微小傳感器電流進行無噪音放大。功能強大的處理器和復(fù)雜的環(huán)境溫度線性化和補償?shù)臄?shù)學(xué)算法，即使在差條件下——即短的測量時間、測量對象的溫度極低、輻射率極小——依然能夠確保穩(wěn)定的測量信號。

采用CellaTemp PA 28短波測量高溫計，可以在以毫秒為單位的測量時間內(nèi)穩(wěn)定、可靠地測量輻射率僅有10%的、溫度從75℃ 起的金屬溫度。該款設(shè)備還可用于快速測量譬如卷材涂布或感應(yīng)加熱裝置中的移動物體。

KELLER紅外測溫儀PKF各型號技術(shù)參數(shù)

型號	測量范圍	光譜范圍	焦距	測量區(qū)域大小	測量誤差*1	定位時間t98	可重復(fù)性	溫度系數(shù)*2
光纖紅外測溫儀，采用光纖和測量頭
PKF 26 AF 1	300-1600°C	1.0-1.7μm	0.2m-∞	180:01:00	測量值 [°C] 的 0.3%，加上 2.5 K	≤ 2 ms 當 T > 600 °C	2 K	0.07 %/K
	572-2912°F
PKF 26 AF 2	300-1600°C		1.5 m	? 7.2 mm		≤ 2 ms 當 T > 600 °C	2 K
	572-2912°F
PKF 26 AF 3	300-1600°C		0.12 m-∞	70:01:00		≤ 2 ms 當 T > 600 °C	2 K
	572-2912°F
PKF 36 AF 1	550-2500°C	0.78-1.06μm	0.2 m-∞	190:01:00		≤ 2 ms 當 T > 900 °C	2 K
	1022-4532°F
PKF 36 AF 2	550-2500°C		1.08 m	? 5.6 mm		≤ 2 ms 當 T > 900 °C	2 K
	1022-4532°F
PKF 36 AF 3	550-2500°C		0.12 m-∞	85:01:00		≤ 2 ms 當 T > 900 °C	2 K
	1022-4532°F

*1 當 ε = 1 和 Tu = +23 °C 時
*2 誤差加上 Tu = +23 °C

光學(xué)系統(tǒng)的分辨率和聚焦性能，使得遠距離測量或?qū)Υ笥?毫米的微型對象的測量成為可能。因為該款設(shè)備的工作原理是基于恒光技術(shù)，因此不涉及到移動部件，因此使用多年后，仍然能夠保證免維護、無損耗。德國KELLER公司將與中國銷售和服務(wù)中心-蘇州知非機電設(shè)備有限公司（ www.wzxxdz.com）一同合作，為您提供完整的溫度測量方案。
KELLER紅外測溫儀 CellaTemp PK系列
CellaTemp PK系列紅外測溫儀是在原有的CellaTemp PQ系列的基礎(chǔ)上進行了升級，并取代了CellaTemp PQ系列，相對PQ系列，PK系列增加了信號的開關(guān)輸出方式，并可以直接在測溫儀上進行參數(shù)調(diào)節(jié)。性價比更高，使用更方便。

由紅外線測溫儀CellaTemp PK 捕捉被測物發(fā)出的紅外輻射并將其轉(zhuǎn)換成電信號，并通過模擬輸出在小顯示屏上顯示相應(yīng)的溫度讀數(shù)。

由于采用了模擬和數(shù)字線性化的獨特的組合，使紅外線測溫儀CellaTemp PK得到分辨率的信號處理。傳感器本身具有的大量程具有非常高的溫度分辨率和極低的NETD（噪聲等效溫差）。即使是很短的響應(yīng)時間和低溫度段測量，也能提供穩(wěn)定的測量數(shù)據(jù)。 通過使用高節(jié)拍微處理器可以達到小2毫秒的測量時間。

以先進的LED技術(shù)為基礎(chǔ)而裝配的非常明亮的小顯示屏幕，即使從很遠的地方也可以讀取數(shù)值并同時達到節(jié)能效果。

產(chǎn)品特點：
測溫范圍從 -30 至 2500 ℃
模擬輸出0/4 – 20 毫安
可通用配置的開關(guān)輸出
通過精密鏡頭可得到高光學(xué)分辨率
大測量范圍的同時具有很高的溫度分辨率
所有參數(shù)可以通過傳感器上的按鍵調(diào)節(jié)
通過按鍵或者控制信號可啟動測試功能
通過M30 的中心螺紋使安裝變得簡單
醒目且高亮度的LED 顯示
一體機或可通過光纖引導(dǎo)的分體機

KELLER緊湊型高溫計
型號
測溫范圍
應(yīng)用
PK11
0–1000℃
非金屬
PK12
-30– 300℃
低溫物體
PK14
0 – 500℃
大型被測物

PK18

0 – 1000℃
惡劣測量環(huán)境的非金屬
PK21
250 – 1600℃
金屬、陶瓷及玻璃熔液
PK29
150 – 800℃
鋁、表面發(fā)亮的金屬及激光應(yīng)用
PK31
500 – 2500℃
高溫下的金屬、陶瓷
PK41
300 – 2500℃

玻璃表面

PK51
400 – 1400℃
火焰加熱爐
光纖高溫計
型號
測溫范圍
應(yīng)用
PKF 26
300 – 1600℃
金屬、陶瓷及玻璃熔液
PKF 36
550 – 2500℃
高溫下的金屬、陶瓷
紅外測溫儀（高溫計）CellaTemp PA

德國KELLER（凱樂）公司新推出的CellaTemp PA系列紅外測溫儀是在CellaTemp PZ系列的基礎(chǔ)上進行的升級，并取代CellaTemp PZ系列的多功能測溫儀，相比CellaTemp PZ系列，新型測溫儀CellaTemp PA系列采用模塊化設(shè)計，增加多種信號輸出方式，可實現(xiàn)不同擴展功能。整體價格基本保持不變，功能更加，性價比更高。
紅外線測溫儀（高溫計）CellaTemp PA 基于模塊化的功能——光學(xué)器件、傳感器、信號處理、操作控制器、數(shù)據(jù)輸出。通用組件可以多種方式組合，可產(chǎn)生25種不同的變體供選擇。
通過CellaTemp PA，KELLER MSR 公司將自定義配置的儀表概念付諸現(xiàn)實，滿足了特殊應(yīng)用的需要。

紅外測溫儀CellaTemp PA 有兩個模擬輸出。用戶可以設(shè)定輸出的測量變量。其中一個信號輸出可以設(shè)置為輸入，例如，將熔爐溫度用作溫度讀數(shù)的修正系數(shù)。兩個轉(zhuǎn)換輸出可以實現(xiàn)各種組合，還可以用作開關(guān)輸入。
除了發(fā)射率、模擬電流范圍和信號平滑等標準參數(shù)外，CellaTemp PA還可進行許多新參數(shù)的設(shè)置。通過一條錯誤修正曲線，高溫計可以實現(xiàn)自定義配置。在技術(shù)溫度讀數(shù)時，考慮了防護鏡頭的透射率或者對周圍環(huán)境反射光的補償。另一個新的可選功能就是不連續(xù)作業(yè)中的自動溫度檢測。
四個可互換的鏡頭使得該高溫計在靶點大小和距離比方面具有很大的通用性。這些光學(xué)裝置具有無限的可調(diào)性，可以精確瞄準從幾毫米到幾米的距離。即使靶點小到0.3毫米，也能達到很高的精確度。

紅外線測溫儀 PA可以通過目鏡瞄準系統(tǒng)、激光引導(dǎo)或外置攝像頭來瞄準目標。
紅外線測溫儀 PA的用戶友好型小鍵盤和LED顯示屏面便于操作和配置。溫度讀數(shù)在幾米遠的地方也容易讀取?？梢杂冒粹o直接設(shè)置各項參數(shù)，也可通過電腦上的USB或者RS 485接口進行設(shè)置。RS 485接口可用于網(wǎng)絡(luò)連接。

紅外測溫儀（高溫計）CellaTemp PA 具體型號及主要特性：
型號/規(guī)格
溫度范圍
應(yīng)用
波長
類型
光纖
PA10
0-1000℃
塑料、有機材料、橡膠、紙、油漆、清漆、食品、涂層金屬、水泥、瀝青
8-14μm
單色

PA13

500-1600℃
火焰加熱爐
3.9μm
單色
PA15
300-2500℃
玻璃表面
4.46-4.82μm
單色
PA20
250-2500℃
熔融玻璃、陶瓷、石墨、銅焊、退火、鍛造、燒結(jié)、熱處理
1.1-1.7μm
單色
PA29
150-2000℃
低輻射金屬、鋁、青銅、鈦
1.8-2.2μm

單色

PA30
500-2500℃
金屬、陶瓷、石墨、晶體生長、軋機、燒結(jié)、鍛造
0.8-1.1μm
單色
PA35
600-3000℃
金屬、半導(dǎo)體
0.82-0.93μm
單色
PA40
650-3000℃
熔融金屬、水泥、焊接、晶體生長、石墨、燒結(jié)、軋機
0.95/1.05μm
雙色
PA43
500-3000℃
線材、棒材、線圈加熱、電加熱絲
0.95/1.05μm
雙色
PA83
650-1700℃
熔融金屬
0.95/1.05μm
雙色
PA21

350-2000℃

熔融玻璃、晶體生長、金屬、銅焊、鍛造
1.1-1.7μm
單色
PA31
700-2500℃
金屬、陶瓷、石墨、晶體生長、燒結(jié)
0.78-1.06μm
單色
PA41
900-3000℃
熔融金屬、石墨、燒結(jié)
0.95/1.05μm

雙色

型號	測量范圍	光譜范圍	焦距	測量區(qū)域大小	測量誤差*1	定位時間t98	可重復(fù)性
配有 LED 指示燈的單色紅外測溫儀
PKL 11 AF 1
0 - 1000 °C
32 - 1832 °F
8 - 14 μm	0.295 m	? 9 mm	測量值 [°C] 的 0.75%，至少 2.0 K	≤ 60 ms	1 K
0.1 K/K (當 T < 250 °C時)
0.04 %/K (當 T > 250 °C時)
PKL 11 AF 2
0 - 1000 °C
32 - 1832 °F
0.089 m	? 3.2 mm	≤ 60 ms	1 K
PKL 28 AF 1
250 - 1600 °C
482 - 2912 °F
1.0 - 1.7 μm	0.21 m	?1.4 mm	測量值 [°C] 的 0.3%，加上 2.5 K	≤ 2 ms 當 T > 600 °C	1 K	0.07 %/K
PKL 28 AF 2
250 - 1600 °C
482 - 2912 °F
1.0 m	? 6.7 mm	≤ 2 ms 當 T > 600 °C	1 K
PKL 29 AF 1
180 - 1200 °C
356 - 2192 °F
1.8 - 2.2 μm	0.29 m	? 6.2 mm	測量值 [°C] 的 0.3%，加上 4.0 K	≤ 2 ms 當 T > 300 °C  ≤ 10 ms 當 T > 250 °C  ≤ 25 ms 當 T > 180 °C	1 K
0.25 K/K (當 T < 500 °C時)
0.05 %/K (當 T > 500 °C時)
PKL 38 AF 1
500 - 2500 °C
932 - 4532 °F
0.78 - 1.06 μm	0.21 m	? 1.2 mm	測量值 [°C] 的 0.2%，加上 2.5 K	≤ 2 ms 當 T > 900 °C	1 K	0.07 %/K
PKL 38 AF 2
500 - 2500 °C
932 - 4532 °F
1.0 m	.? 5.6 mm	≤ 2 ms 當 T > 900 °C	1 K
配有 LED 指示燈的雙色紅外測溫儀
PKL 68 AF 1
650 - 1600 °C
1202 - 2912 °F
0.95 / 1.05 μm	0.21 m	? 1.8 mm	測量值 [°C] 的 1.0%	≤ 10 ms 當 T > 750 °C	2 K	0.05 %/K
PKL 68 AF 2
650 - 1600 °C
1202 - 2912 °F
1.0 m	? 8 mm	≤ 10 ms 當 T > 750 °C	2 K
*1 當 ε = 1 和 Tu = +23 °C 時
*2 誤差加上 Tu = +23 °C

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